A014 ゼータ電位・粒径・分子量測定システム
規格:大塚電子(株) ELSZ-2Plus(希薄系低誘電率セルユニットEZ-820含)
概要:動的光散乱(DLS)法により、溶液中に存在する高分子や分子会合体の流体力学的半径と、それに関係する情報が得られます。また、電気浸透流の測定により、ゼータ電位の測定解析も可能です。光源は半導体レーザーで、ゼータ電位は-200 mV〜+200 mV、粒子径は0.6 nm〜10μmの範囲で測定でき、測定溶液濃度は0.00001%〜40%ですが、溶液の状態に依存します。
付帯条件:溶媒等については利用者が準備すること。使用後は必ず元の設定に戻しておくこと。
注意事項: